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等离子刻蚀二氧化硅

Plasma Etching SiO2

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【作者】 余山; 章定康; 黄敞;

【Author】 Yu Shau, Zhang Ding-kang, Huang Chang(Li-Shan Micronelectronics Inst.)

【机构】 骊山微电子学研究所; 骊山微电子学研究所 陕西临潼; 陕西临潼; 陕西临潼;

【摘要】 本文对一般的平行板式等离子刻蚀机的电极进行了改进,在改进的刻蚀机上,用CF4+H2刻蚀SiO2,刻蚀速率为700(?)/min,选择性、各向异性均较好。

【Abstract】 An usual plate plasma etching reactor electrode structure has been innovated, and with this improved etching structure, the etching rate about 700(?)/min, goed selectivity and anisotropy of etching silicon oxide are obtained using CF4+H2 as reactive gas.

  • 【文献出处】 微电子学与计算机 ,Microelectronics & Computer , 编辑部邮箱 ,1989年01期
  • 【被引频次】8
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