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用二次曝光全息测定物体的切变模量

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【作者】 方麟瑞;

【机构】 安徽师范大学物理系;

【摘要】 <正> 首先把要测试的材料做成长方棒,在长方棒受应力形变之前曝光一次,在形变后曝光一次,两次曝光的参考光不变,而物光由形变前的O(x,y,t)变为O′(x,y,t)。

【关键词】 参考光; 切变模量; 薄膜干涉; 等厚; 暗条纹; 悬臂端;
  • 【文献出处】 量子电子学 ,Chinese Journal of Quantum Electronics , 编辑部邮箱 ,1989年02期
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