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高压互感器的可靠性发展趋势分析

Developmental Tendency Analysis of the Reliability of the High Voltage Instrumental Transformers

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【作者】 屈梁材; 江荣汉; 陈宗穆; 蓝灵书;

【Author】 Qu Liangcai;Jiang Ronghan;Chen Zongmu;Lan Lingshu Department of Electrical Engineering Shenyang Transformer Research Institute

【机构】 湖南大学电气工程系; 湖南大学电气工程系; 沈阳变压器研究所;

【摘要】 本文以高压互感器的可靠性为线索,从其故障机理、故障诊断、结构型式、构成原理、维护策略与质量管理等几方面的发展过程进行了分析.从中可以窥测高压互感器的可靠性的发展趋向,为其可靠性的深入研究提供基础。

【Abstract】 In this paper the developments of the fault mechanism study,fault diagnosis technology, constitution principle, structure type, insulatingmaterial, maintenance strategy and quality control of the high--voltageinstrumental transformers(HVIT)are analysed around rfliability. Developmentaltendency of the reliability of the HVIT can been spyed out, and the basisis provided for further studying of the reliability of HVIT.

【基金】 “七·五”国家重大技术装备科技攻关项目75-50-05-01-21E
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