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Ar~+离子注入Cu及Cu-Cr双层薄膜的表面硬度和电阻性质研究
【摘要】 本文分别对 200keVAr+注入 Cu及 Cu-Cr双层的表面硬度和电阻,以及上 述性质的时效效果进行了测量;同时进行了TEM分析,发现Ar+注入Cu晶粒随剂量 逐渐细化,而Cu-Cr双层混合,在1017/cm2Ar+注入剂量时,TEM形貌图出现了 沟纹,为一离子择优溅射效果。此时形成了单一的 Cu基亚稳相固溶体。经 200℃退 火,有孪晶生成,Cr沉淀析出。
- 【文献出处】 真空 ,Vacuum , 编辑部邮箱 ,1988年Z1期
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