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单板机LEED强度测量仪

A LEED INTENSITY TESTER USING THE COMPUTER ON SLICE

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【作者】 单冶良; 刘庆华; 陆家和; 蔡思民; 高伊娜;

【Author】 Shan Yeliang, Liu Qinghua, Lu Jiahe, Cai Simin, Gao Yina (Qinghua University)

【机构】 清华大学; 清华大学;

【摘要】 本文介绍用最简单的计算机(单板机)配合摄像机测量低能电子衍射强度特性的装置。这台装置具有结构紧凑、原理简易、操作方便和价格低廉等特点。它不仅在测量低能电子衍射强度特性方面性能良好,也适应于其它衍射图案的强度分析。最后介绍用这台仪器测量的部分实验结果。

  • 【文献出处】 真空科学与技术 ,Vacuum Science and Technology , 编辑部邮箱 ,1988年06期
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