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使用AES和XPS研究荧光灯的质量

QUALITY ANALYSIS OF FLUORESCENT LAMP BY AES AND XPS

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【作者】 严申生; 钱永生;

【Author】 Yan Shensheng (Shanghai Institute of Testing Technology) Qian Yongsheng (Shanghai Electron Tube Works No.2)

【机构】 上海测试技术研究所; 上海电子管二厂;

【摘要】 用AES和XPS方法,分析荧光灯阴极涂层和灯管管壁粉层,并作了对比研究。发现影响荧光灯质量的主要因素是:合理的阴极设计、材料的适当配比和许多工艺技术问题。初步结果表明,应用表面分析技术是有效的手段,可以解决过去无法解决的一些问题。提高荧光灯质量及使用寿命。

【Abstract】 In this paper, AES and XPS are used to analyze the cathode coats of fluorescent lamp and the powder layers on the wall of the lamp tube. It has been found that the main factor’s which impair the fluorescent lamp quality are: appropriate cathode design, a proper ratio of materials and some technological problems.

  • 【文献出处】 真空科学与技术 ,Vacuum Science and Technology , 编辑部邮箱 ,1988年06期
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