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硅中硫族杂质中性多原子集团的电子结构

Electronic Structures of Chalcogen Impurities as Neutral Multi-atom Clusters in Si

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【作者】 黄明竹胡伟敏

【Author】 Huang Mingzhu;Hu Weimin Department of Physics

【机构】 中国科学技术大学物理系中国科学技术大学物理系

【摘要】 本文在紧束缚近似下,利用Koster-Slater格林函数方法,研究了硅中代位式三原子集团D30(S30,Se30,Te30)和四原子集团D40(S40,Se40,Te40)的电子结构。给出了D30和三种不同对称位形(C3e,C2h和C1)下D40杂质能级计算结果。还预言了一些杂质态在缺陷集团处的波函数。随着杂质中心上原子数目的增加,施主束缚能变浅。看来,实验观测到的与硫族中心有关的待定施主能级不是非最近邻原子构成的集团所产生的。

【Abstract】 The electronic structures of the substituional chalcogen-related centersfor three-atom clusters D30 and four-atom clusters D40 (D = S, Se, Te) in Siare investigated by using the Koster-Slater Green’s function method in anempirical tight binding approximation. The calculation results of the impuritylevels for D30 and D40 with three different symmetry configurations (C3., C2,and C1) are presented. The wave functions on the defect clusters correspondingto some levels are predicted. A chalcogen impurity center would have shallowerdonor binding energy with the increase of the atoms included in it. It appearsthat the impurity clusters consisting of some non-nearest neighbor atoms arenot responsible for the experimentally observed donor levels of any chalcogencenters to be identified.

【关键词】 半导体深能级硫属杂质
【Key words】 semiconductordeep levelssiliconchalcogen impurity
【基金】 中国科学院科学基金
  • 【文献出处】 中国科学技术大学学报 ,Journal of University of Science and Technology of China , 编辑部邮箱 ,1988年01期
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