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铝电解质各组份光学性质及显微结构的分析

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【作者】 张金生; 邱竹贤;

【机构】 东北工学院; 东北工学院;

【摘要】 本文采用晶体光学法,在偏光显微镜下系统研究了铝电解质各纯组份:NaF、AlF8、Na3AlF6、Al2O3、LiF、MgF2、CaF2、Na5Al3F14的光学性质及显微特性,并论讨了晶体光学法进行铝电解质综合分析鉴定的基本程序。

  • 【文献出处】 有色矿冶 ,Non-ferrous Mining and Metallurgy , 编辑部邮箱 ,1988年05期
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