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用CAMECA离子探针分析钢铁及其有关材料

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【作者】 游俊富；

【机构】 上海市测试技术研究所；

【摘要】 介绍了用CAMECA SMI-300型离子探针对钢铁、矿石、耐火材料进行微区、微量分析和深度分析方法。作者在实验中摸索出了测定不导电或导电不佳的平面状、颗粒状、粉末状样品的方法和消除样品表面氧化效应的方法。还报道了作者得到的部分有用结果及分析中存在的问题。

【关键词】 离子探针； CAMECA； 微区； 钢铁生产； 微量分析； 表面氧化； 颗粒状； 样品架； 解理面； 离子流；
  • 【文献出处】 物理测试 ,Physics Examination and Testing , 编辑部邮箱 ,1988年04期
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