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单晶光纤应力分布测试方法的研究和应用

Research and Application of the Measurement Method for Stress Profile in single Crystal Fiber

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【作者】 亓勇; 顾秋华; 徐森禄;

【Author】 Oi Yong;Gu Qiuhua;Xu Senlu(Graduate School,Zhejang University)

【机构】 浙江大学研究生院; 浙江大学研究生院;

【摘要】 <正> 单晶光纤应用于光纤激光器,光放大器及光纤传感器时,对其折射率的分布,或应力分布有很高的要求。精确测定单晶光纤横截面上的应力分布,对于单晶光纤的理论分析和应用研究,尤其是生长工艺的控制有重要的意义。本文给合四分之一波片法和计算机层析技术,建立了适用于光纤轴向残余应力分布无损检测的实验装置,该方法由横向通过光纤的线偏光

  • 【文献出处】 人工晶体 ,Journal of Synthetic Crystals , 编辑部邮箱 ,1988年Z1期
  • 【被引频次】1
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