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等离子体增强化学气相沉积(PECVD)SnO2薄膜及其性质研究

A Study on Properties of the SnO2 Films by PECVD Method

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【作者】 吕德安; 戴国瑞; 邵丽梅; 张晓燕;

【Author】 Lu Dean. Dai Guorui, Shao Limei and Zhang Xiaoyan (Department of Electronics Science, Jilin University)

【机构】 吉林大学电子科学系; 吉林大学电子科学系; 吉林大学电子科学系 1985年吉林大学电子科学系毕业生; 1985年吉林大学电子科学系毕业生;

【摘要】 本文采用PECVD技术,在SnCl4和氧等离子体气氛中,于250℃衬底温度,在有SiO2表面层的硅单晶衬底片上沉积了SnO2,薄膜。并对该膜的化学组成、表面形貌及其它性质做了研究。

【Abstract】 The ultrafine particles of the tin dioxide (SnO2) films were success-fully fabricated at 250℃ by plasma enhancing chemical vapor deposition(PECVD) onto the SiO2 films grown on a silicon substratc. The chemical components, surface morphologies and the other properties of the SnO2 films were investigated by means of the modern analysis instruments.

【关键词】 等离子体; 沉积; 薄膜;
【Key words】 plasma; deposition; film.;
  • 【文献出处】 吉林大学自然科学学报 ,Journal of Jilin University , 编辑部邮箱 ,1988年01期
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