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一种用于确定某些金属氧化物化学位移的新方法
NEW METHOD FOR CHEMICAL SHIFT DETERMINATION BY ION INDUCED AES IN SOME OXIDES
【摘要】 本文报导了我们在离子感生俄歇电子发射机制研究的基础上,在确定某些氧化物的原子内层化学位移方面所做的工作。从实验上和理论上讨论了离子轰击下,表面上产生的不同于电子激发的俄歇跃迁,提出了用离子感生俄歇确定氧化物中原子内层化学位移的方法,并测得了Al2O3、SiO2和MgO中原子内层的化学位移值,与XPS的测定值相吻合。
【Abstract】 The possible Auger transitions in some oxides under the low energy ion bombardment are discussed here both in theory and experiments.resulte show that the chemical shifts in Al2O3, Sio2 and MgO can be obtained directly from the ion induced Auger electron spectra, and are in agreement with resnits obtained by-XPS.
- 【文献出处】 真空科学与技术 ,Vacuum Science and Technology , 编辑部邮箱 ,1987年04期
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