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电荷耦合器件(CCD)在非接触尺寸测量中的应用

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【作者】 高金铸； 朱茂镒；

【机构】 机械委北京机械工业自动化所； 北京信息工程学院；

【摘要】 本文简要论述了线型电荷耦合器件在生产线上非接触动态测量几何尺寸中的应用。介绍了测最原理、装置及测试结果。在测量系统中,使用了Intel公司出品的MCS-48单片微型计算机。

【关键词】 电荷耦合器件； 尺寸测量； 单片微型计算机； 测量系统； 动态测量； 测最； 成象系统； 非接触测量； 输出视频； 光学图象；
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