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“G-F”二值算法处理多故障

【Author】 Sheng Yunhuan and Zeng Zhide(Changsha Institute of Technology)

【摘要】 <正> 本文,分析并证明了产生多故障测试的布尔差分多项式存在着的问题.先参看[2]中第一部分“电路“G—F”二值描述”有助于理解本文。 1.“G-F”二值公式及有关定理. 令电路的功能表达式（积之和形式）是F（x）=F（x₁,x₂,…,x_n）,其补函数是更多还原

【关键词】 G-F；算法处理；故障测试；补函数；测试集；大时；牙爪；极小化；积之；最小覆盖；

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