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软组织侧貌X线片头影测量分析

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【摘要】 <正> 颅面部硬组织的X线头影测量技术创立于三十年代,已成为研究颅颌面骨骼结构形态、生长发育及错(牙合)机制分析的重要手段。自五十年代末起,不少学者致力于软组织侧貌的X 线头影测量研究,使其成为与硬组织X线头影测量几乎同等重要的研究手段及临床分析方法。在错(牙合)矫治的临床实践中,软组织外形及

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