节点文献

正面入射In0.53Ga0.47As/InP光电PIN管量子效率研究

A Study on the Quantum Efficiency of the In0.53Ga0.47As/lnP PIN Photodiode From Front Side Incidence

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【作者】 张胜琼张燕斌施虎

【Author】 Zhang Shangqiong, Zhang Yanbin, Shi Hu (Nanjing Electronic Devices Institute)

【机构】 南京电子器件研究所南京电子器件研究所

【摘要】 本文建立正面入射型In0.53Ga0.47As/InP光电PIN二极管量子效率理论分析模型;分析了提高量子效率的途径:减小结深,改善表面状况对提高器件量子效率有显著作用。应用于器件制作,使器件量子效率在无防反射涂层时可达60%左右,有防反射涂层时高达85%。

【Abstract】 A theoretical model of the In0.53Ga0.47As/InP photodiode from front side incidence is presented. An analysis indicates that both the decrease in junction depth and the improvement on surface treatment are of great significance to enhance quantum efficiency. Experiments show that the quantum efficiency of devices without and with antireflection coating is about 60% and 85%, respectively.

【关键词】 量子效率As/InPGaInPIN防反射涂层器件制作结深表面状况少数载流子
  • 【文献出处】 固体电子学研究与进展 ,Research & Progress of Solid State Electronics , 编辑部邮箱 ,1987年01期
  • 【下载频次】31
节点文献中: 

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络