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电子显微分析中的金属及半导体标样

Standard Sample of Metals and Semiconductors in Electron Microanalysis

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【Author】 Gong Shimin;Zho Huiling;Liu Xiangling;Wang Hongxiang;Tan Litong Shanghai Institute of Metallurgy, The Chinese Academy of Scieneces

【机构】中科院上海冶金研究所；中科院上海冶金研究所；

【摘要】本文概述了电子探针显微定量分析及对标样的要求。介绍了Fe、Sn、Ge、GaAs、InP、Lu₃Fe₅O₁₂、Yb₃Fe₅O₁₂标样的制备和有关参数。更多还原

【Abstract】 Iu This paper a summary on electron probe quantitative microanalysis the requirements ofstandard samples and the preparation of standard samples of Fe, Sn, Ge, GaAs, InP, Lu₃Fe₅O₁₂,Yb₃Fe₅O₁₂ and their relative parameters. were given.更多还原

【关键词】显微分析；电子探针；射线强度；石英舟；灰锡；区熔提纯；第二相；振动球磨机；化学计量；阴极反应；

【文献出处】电子显微学报 ,Journal of Chinese Electron Microscopy Society , 编辑部邮箱 ,1987年01期

【被引频次】1
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