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高精度线性电路低频电压噪声密度的测试

Test of Low Frequency Voltage Noise Density for High Precision Linear IC

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【作者】 徐剑石卢兆明

【Author】 Xu Jian-shi (Jinan Municipal Institute of Electronic Technology). Lu Zhao-ming (Dept. of Physics, Shandong University).

【机构】 济南市电子技术研究所山东大学

【摘要】 文中报告了作者研制的QD-3181型线性电路电压噪声测试仪,给出了对几种高精度线性集成电路低频电压噪声密度的测量结果和比较。在10Hz、100Hz、1kHz三点频下,测得作者研制的超β器件的低频电压噪声密度分别为4.0nV/(Hz)1/2、2.0nV/(Hz)(1/2)和1.5nV/(Hz)1/2

【Abstract】 QD-3182 linear circurt voltage noise test instrument has been developed. Several measured results for low frequency voltage noise density in high precision linear integrated circuit are given and compared with each other. The voltage noise densities in our super-β device measured at 10Hz, 100 Hz and 1kHz are 4.0nV/Hz,2.0nV/Hz and 1.5nV/Hz respectively.

  • 【文献出处】 电子学报 ,Acta Electronica Sinica , 编辑部邮箱 ,1987年03期
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