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Cd_(1-x)Zn_xTe和Cd_(1-y)Hg_yTe系的晶格常数的测定  
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【英文篇名】 Measurements of Lattice Parameter in Systems Cd_(1-x)Zn_xTe and Cd_(1-y)Hg_yTe
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【作者】 于福聚; 徐三保; 张恕明;
【英文作者】 Yu Fuju/Shanghai Institute of Technical Physics; Academia SinicaXu Sanbao/Shanghai Institute of Technical Physics; Academia SinicaZhang Shuming/Shanghai Institute of Technical Physics; Academia Sinica;
【作者单位】 中国科学院上海技术物理研究所;
【文献出处】 半导体学报 , Chinese Journal of Semiconductors, 编辑部邮箱 1987年 05期  
期刊荣誉：ASPT来源刊  中国期刊方阵  CJFD收录刊
【摘要】 本文给出含Zn量0.00≤x≤0.10的Cd_(1-x)Zn_xTe晶体晶格常数对组分x的变化曲线,并与三元系 Cd_(1-y)Hg_yTe晶体晶格常数进行比较.分别计算了 Cd_(0.094)Zn_(0.036)Te-Cd_(0.2)Hg_(0.3)Te和CdTe-Cd_(0.2)Hg_(0.3)Te双晶系的晶格失配度,讨论了其晶格匹配.
【英文摘要】 The dependence of lattice parameters upon the compositions x (0.00≤x≤0.10) inCd_(1-x)Zn_xTe crystals are given,and the lattice parameters are compared with those of ternaryCd_(1-x)Hg_xTe crystals.The misfit in bicrystal systems of Cd_(0.094) Zn_(0.036)Te-Cd_(0.2)Hg_(0.6) Te andCdTe-Cd_(0.2)g_(0.6)Te is calculated, and the lattice mismatch is discussed.
【正文快照】 一、引言 由于ZnT。晶休比CdT。的键长较短,单位键长的位错能较大,所以即使含Zn最很少的Cdl_多nxT。晶体,位错密度也会比cdT。晶体大大减少(如对x为。.03一。.04,位错密度比CdT。低约一个数量级山);而且Cdl一:zn二T。缺陷密度较低,机械强度较高;再有CdTe一ZnT。系相图为扁凸透?

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