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Ni在Si(111)和Si(100)面上吸附的理论研究

Theoretical Studies on the Chemisorptions of Ni on Si(111) and Si(100) Surfaces

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【作者】 田曾举张开明叶令谢希德

【Author】 Tian Zengju/Institute of Modern Physics, Fudan UniversityZheng Kaiming/Institute of Modern Physics, Fudan UniversityYe Ling/Institute of Modern Physics, Fudan UniversityXie Xide/Institute of Modern Physics, Fudan University

【机构】 复旦大学现代物理所复旦大学现代物理所

【摘要】 采用集团模型和分立变分的 Xα方法研究 Ni原子在Si(111)顶位和三度开位吸附,以及在Si(100)四度位和桥位吸附的可能性,由体系的总能量最低确定稳定吸附位置,并在稳定吸附位讨论了Ni-Si成键特性和态密度.结果表明,只有当Si(111)表面弛豫情况下Ni原子才能沿[111]方向进入表面以下,但Ni原子也能沿[100]方向进入Si表面层.计算所得态密度与实验符合较好.比较所得的态密度和 NiSi2/Si(111)的界面态密度表明位于表面下的Ni可能是生长NiSi2的先兆.

【Abstract】 The cluster model and the DV-Xα methods are used to determine the configurations ofNi/Si(111) and Ni/Si(100) during the initial stage of deposition.The possible precursor statesfor the formation of nickel disilicides on silicon for both cases are discussed and comparedwith the experiments.

【关键词】 态密度顶位吸附位表面弛豫悬挂键NiSi理论研究集团模型吸附体系
  • 【文献出处】 半导体学报 ,Chinese Journal of Semiconductors , 编辑部邮箱 ,1987年03期
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