节点文献
TTL电路的低温模拟测试
【摘要】 <正> 低温模拟测试是一种室温下测试低温性能的技术。它对于军用半导体器件的筛选有很大实用价值。现在常用的方法是将电路放置于低温箱内进行电参数测试,但这种测试方法存在以下四个难以克服的困难:1.插头插座的接触问题。低温下用于测试转换的插头插座表面结有很薄一层坚硬的冰层。经常造成接触不良。严重影响测试准确性。
- 【文献出处】 质量与可靠性 ,Quality and Reliability , 编辑部邮箱 ,1986年04期
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