节点文献

用RIXE方法分析红外材料Hg_1-xCd_xTe

ANALYSIS OF INFRA-RED MATERIAL Hg₁-x Cd_xTe USING PIXE METHOD

推荐 CAJ下载
PDF下载
不支持迅雷等下载工具，请取消加速工具后下载。

【Author】 CHEN Suqing, ZHANG Dazhong, CHEN Jianxuan,WANG Nengming.(Institute of Nuclear Science and Technology of Sichuan University, Chengdu, China,)

【机构】四川大学原子核科学技术研究所；四川大学原子核科学技术研究所；

【摘要】利用四川大学原子核科学技术研究所的Van de Graaff质子静电加速器和半导体Si（Li）谱仪,应用PIXE（质子激发X射线发射）分析方法,测定了Hg_1-xCd_xTe样品中微量元素的成份和含量。更多还原

【Abstract】 Determination of trace elements in infra-red material Hg1-x Cdx Te has been carried out by PIXE (Proton Induced X-Ray Emission) using a Van De Graaff accelerator and a Si(Li) Semiconductor Spectrometer in Institute of Nuclear Science and Technology of Sichuan University. Experimental spectrum and data were given and discussed更多还原