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国际电工委员会第65技术委员会“工业过程测量和控制”(IEC/TC65)柏林(西)会议记述

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【作者】 邵志勇;

【机构】 上海工业自动化仪表研究所;

【摘要】 <正> 国际电工委员会第65技术委员会"工业过程测量和控制"连同所属SC65B"系统的元件"分委员会于1986年9月30日至10月3日在柏林(西)随同IEC第50届大会召开会议。中国代表团由国家标准局组团,IEC/TC

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