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用测量-196℃低温电阻的方法研究铁素体合金中的α’脆化

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【作者】 吴浩泉;

【机构】 东北重型机械学院;

【摘要】 本文提出了一种非破损测定材料低温(-196℃)电阻的方法来研究高铬铁素体合金中α’析出脆化的规律。结果能与破损性的机械拉伸试验及扫描电镜断口形貌分析的结果有较好的吻合。

  • 【文献出处】 理化检验.物理分册 ,Physical Testing and Chemical Analysis (Part A:Physical Testing) , 编辑部邮箱 ,1986年04期
  • 【分类号】TG115
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