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高压下非晶半导体薄膜材料吸收边的测定

The Measurement of Absorption Edge of Amorphous Semiconductors Thin Films under High Pressure

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【作者】 金曾孙箕村茂

【Author】 Jin Zengsun (Institute of Atomic and Mole(?)ular Physics, Jilin University, Changchun, China) S.Minomura (Department of Physics Faculty of Science, Hokkaido, University, Sapporo, Japan)

【机构】 吉林大学原子分子物理研究所日本北海道大学理学部

【摘要】 本文使用金刚石对顶砧压机(DAC)和MSM-25C型显微分光光度计测量了压非晶硅(a-Si:H)和非晶三硫化二砷(a-As2S3)的吸收边的影响。在0-50kbar范围内,a-Si:H吸收边的压力系数△Eg/△P≈-8×10-4eV/kbar,在0—22力对kbar压力范围内,a-As2S3吸收边的压力系数△Eg/△P≈-1.4×10-2eV/压力kbar,而且在压力作用下它们的吸收边的变化是不可逆的。

【Abstract】 In this paper, the pressure effects on absorption edge of a-Si:H and a-As2S3 have been measured with diamond anvil cell and microspectrophotometer. The pressure coefficient of absorption edge of a-Si:H is ⊿Eg/⊿P=-8×10-4eV/kbar in the range of 0—50 kbar, the pressure coefficient ofabsorption edge of a-As2S3 is ⊿Eg/⊿P=-1.4×10-2eV/kbar in the range of 0—22kbar. The changes of absorption edge of a-Si:H and a-As2S3 are unadverse under pressure.

  • 【文献出处】 吉林大学自然科学学报 ,Journal of Jilin University , 编辑部邮箱 ,1986年03期
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