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PiN硅光二极管的噪声测试

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【作者】 丁慧； 董亮初；

【机构】 中国科学院上海技术物理研究所； 中国科学院上海技术物理研究所；

【摘要】 <正> 在反偏、无光照、室温条件下测量了PiN硅光二极管(其光谱响应从0.4～1.2μm)中的电流噪声频谱。利用硅光二极管与高阻低噪声前置放大器的最佳组合法,在美国H-P3585A频谱分析仪上测量了20Hz～70kHz带宽内的噪声频谱。实验证实了对硅光二极管噪声机理的物理分析:在低频时,1/f噪声的贡献是主要的;在中频区,产生复合噪声(散粒噪

【关键词】 复合噪声； 噪声测试； PiN； 前置放大器； 频谱分析仪； 反偏； 噪声频谱； 高阻； 物理分析； 光谱响应；
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