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透射光谱分析在HgCdTe光导探测器制备中的应用

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【作者】 司承才； 季华美； 朱龙源；

【机构】 中国科学院上海技术物理研究所； 中国科学院上海技术物理研究所；

【摘要】 <正> 我们采用透射光谱方法对Hg1-（?）CdxTe材料进行分类,用此方法,不仅可以确定材料的组份,而且可以判定材料组分的均匀性。通过测量不同温度下的透射光谱,并根据透射光谱随温度的变化趋势,可判定材料的质量,这种方法无损伤,且比其它方法更为有效。

【关键词】 透射光谱； HgCdTe； 备中； 均匀性； 透过率； 材料组分； 组份； 吸收边； 红外分光光度计； 测量室；
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