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HgCdTe外延片组份值的简易省时判别法

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【作者】 陈记安；

【机构】 华北光电技术研究所；

【摘要】 <正> 测量x值的方法有13种,但都存在一些缺点。电阻判别法的原理是基于半导体具有一定的电阻,它与晶体的结构以及能带、电阻率、迁移率、载流子浓度、缺陷等有关,而Hg1-xCdxTe晶体的能隙E?又直接与x值有关。从经典电阻公式推导出电阻

【关键词】 判别法； HgCdTe； 能隙； 载流子浓度； 公式推导； 外延片； 本征载流子； 组份； 迁移率； 外延层；
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