【摘要】 <正> 自从1974年西德H.Ebel等人首先使用基本参数法X射线荧光分析技术绝对测量薄层厚度以来,已经有许多人在改进这项技术,并取得了进展。使用这种方法可以不需要任何标准样品,非破坏性地绝对测量几乎任意材料组合的镀层厚度。但是这些方法都局限在单镀层,而在生产中常见的是复合镀层。如铜基上镀镍再镀金;铁基上镀铜再镀镍;黄铜上镀银再镀金等。对于复合镀层,美国R.J.Russell在1977年研究了多层之间二次荧光对测量结果的影响。更多还原

【Abstract】 This paper describes a FORTRAN program used for absolute calculation of the thickness of multiple plating layers by means of X-ray fluorescence techniques, where the non-monoenergetic primary radiations and the second and the third fluorescence X-rays are considered.更多还原