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X射线荧光钛涂层厚度测量仪
A X-ray Fluorescence Thickness Gauge for Measuring Titanium-Contained Coating Layer
【摘要】 本文介绍一种X射线荧光测厚仪,用以测量钢基及钨基上的碳化钛或氮化钛涂层厚度。仪器测量范围为0.1—20μm,测量孔径为4mm。
【Abstract】 This paper introduces a X-ray fluorescence thickness gauge which is used to measure coating iayer thickness of titanium carbide or titanium nitride on steel and tungsten base. Measuring range is from 0.1μm to 20μm. The diameter of measuremen, aperture is. 4mm.
【关键词】 测厚仪；
X射线荧光；
碳化钛涂层；
氮化钛涂层；
非破坏性检查；
【Key words】 Thickness gange； X-ray fluorescence； Titanium carbide coating laer； Titanium nitride coating layer； Nondestructive inspection；
【Key words】 Thickness gange； X-ray fluorescence； Titanium carbide coating laer； Titanium nitride coating layer； Nondestructive inspection；
- 【文献出处】 核电子学与探测技术 ,Nuclear Electronics & Detection Technology , 编辑部邮箱 ,1986年01期
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