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ZnO薄膜的成分与电阻率的关系

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【作者】 张鹰

【机构】 成都电讯工程学院三系

【摘要】 为了弄清ZnO薄膜的导电机理及电阻率与工艺参数的关系,对薄膜的成分进行了精确测定。结果表明,电阻率主要受膜中Zn/O比的影响。对电导机理提出的模型认为,主要由导带电子传导和缺陷间跳跃电导决定膜的电导性能。膜中施主为氧空位,陷阱由填隙氧原子提供。当膜中Zn多于氧时,主要为导带电导,而氧多于Zn时,则以跳跃电导为主。

  • 【文献出处】 电子元件与材料 ,Electronic Components $ Materials , 编辑部邮箱 ,1986年04期
  • 【被引频次】3
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