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扫描电镜像片的三维测定和等值线图测绘

THREE DIMENSIONAL DETERMINATION ANDISOLINE DRAWING USING SCANNINGELECTRON MICROPHOTOGRAPH

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【作者】 李伟倩; 李广文;

【Author】 Li Weiqian. Li Guangwen(Tongji University)

【机构】 同济大学; 同济大学;

【摘要】 本文叙述了利用扫描电子显微镜摄取的立体显微像片,测定石英(SiO2)微小颗粒表面的光滑度和测绘等值线图的原理和方法,推证了解算视差和高程的公式以及精度估计,介绍了用扫描电子显微镜所拍摄像片进行解析处理的某些特点。

【Abstract】 :This paper describes a surface unflatness determination of a tiny grain of quartz (SiO2)and its isoline drawing using scanning electron microphotographs.A formula for parallax and height determination has been derived and their precis-ion has been estimated, some features of analytical processing with scanning electronmicrophotographs have been introduced.

  • 【文献出处】 测绘学报 ,Acta Geodaetica Et Cartographic Sinica , 编辑部邮箱 ,1986年04期
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