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平面主应力的X射线测定方法

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【作者】 王茂林

【机构】 五二研究所

【摘要】 用X射线法测定表面残余应力,测定平面主应力的大小和方向,由此可计算出平面应力分布,许多研究者作了不少工作,但公式繁多,不便记忆。本文导出三次测量计算主应力大小和方向的普遍适用的公式,并对主应力方向的判断进行了讨论,提出了主应力方向的简单判断方法。

  • 【文献出处】 兵器材料科学与工程 ,Ordnance Material Science and Engineering , 编辑部邮箱 ,1986年12期
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