节点文献

微光斑尺寸测试技术

Submicron Spot Size Measuring Technique

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【作者】 陈垦刘立明沈冠群黄宣劭蔡康泽俞三程

【Author】 Chen Ken Liu Liming Sheng Guanqun Huang Xuanzhao Cai Kangze Yu Sanchen (Shanghai Institute of Laser Technology)

【机构】 上海市激光技术研究所上海市激光技术研究所

【摘要】 光盘录刻系统的一个重要参数是系统的最小可能焦斑尺寸。本文描述一种测量亚微米级焦斑的方便而精确的测量技术。测试装置包括对焦及微调机构;刀口/光检测器扫描部分和光栅读数刀口定位部分。

【Abstract】 The size of the smallest possible focused spot is one important system parameter ofoptical disc recording system.This paper describes a convenient and accurate technique for measuringthe submicron spot.The measuring apparatus consists of three subsystems:(a)focused spot findingand adjusting system;(b)scanning knife-edge/photodetector system;(e)optical 4 dividing gratingsystem which provides a metric for the knife-edge displacement.

  • 【被引频次】3
  • 【下载频次】61
节点文献中: 

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络