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半导体中的正电子湮没研究

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【作者】 邱万川; 王少阶; 罗守礼;

【机构】 武汉大学; 有色金属研究总院;

【摘要】 <正> 根据Brandt-Reinheimer模型,用一个与禁带宽度有关的增强因子f(r_i,E_g)来考虑半导体中出现的禁带,而与正电子发生湮没的价电子,则仍然被当作自由电子气,得到半导体中正电子湮没的寿命:

【关键词】 半导体; 硅; 正电子湮没;
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