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铍中主要杂质元素的INAA和PIXE测定

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【作者】 孙用均； 马鑫培； 赵砚卿； 高淑玲； 臧秀荣；

【机构】 中国原子能科学研究院； 中国原子能科学研究院；

【摘要】 <正> 对铍中金属杂质元素的测定,INAA和PIXE分析是非常有利的方法。它具有灵敏度高、可靠性好、多元素同时测定、操作简便等优点。PIXE分析是利用静电加速器提供的2MeV质子束,流强100nA,轰击1000秒,测量X射线的Si(Li)半导体探测器的能

【关键词】 铍； 杂质元素； 仪器中子活化分析； 质子激发X射线分析；
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