【摘要】 Nb₃Sn层中的晶界是影响临界电流的重要微结构因素.对扩散Nb₃Sn薄膜的TEM研究表明有尺度分别在10³A与10²A的两种大小不同的晶粒.很大面积的叠栅条纹证明有与扩散方向大体上正交的大量晶界.其中,取向差20°的大角度扭转晶界给出间距小到15A的极细密叠栅条纹.初步讨论了这种晶界形成的可能原因.更多还原

【Abstract】 Grain Boundary （GB） is an important microstructual factor for critical current.TEM study of diffusion Nb₃Sn film shows that there exist two categoris of grains sibedabout 10³A and 10²A respectively. The abundance of large area Moire fringes displas avast amount of GB nearly normal to the diffusion direction. In particular, the large angle（～20°） twist boundary produces fine fringes with space 15 A. Possible origin of suchkind of GB has been discussed.更多还原