节点文献

在双极电路中硼离子注入条件的选择

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【摘要】 <正> 一、引言在半导体器件生产中,经常用硼离子注入制作双极电路中晶体管的基区。本文主要论述怎样根据电路对基区要求的结深、方块电阻等参量来选择离子注入的能量、剂量及退火条件。通过实验证明:硼离子注入后,在900℃以上退火,可以使注入杂质有90—100%的电激活。当结深相同时,同一剂量的方块电阻相同。本文提供了结深、方块电阻与注入剂量的关系曲线,并且指出,硼注入层在氧化后由于硅和二

  • 【文献出处】 微电子学与计算机 ,Microelectronics & Computer , 编辑部邮箱 ,1984年06期
  • 【下载频次】40
节点文献中: 

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络