选区X射线微光束技术

【摘要】 <正> 一、前言选区X射线微光束方法与常规的X射线多晶体平板照相法间的根本区别是这种方法使用直径为150微米以下的细X射线束照射试样。其次,试样上的照射面积通常限制在直径小于200微米。同时,还要按照实验者的希望选取指定的照射地点。从上述要求看,这种技术虽不过分复杂,可是要把选区精度做到显微尺度,这在实验技术上是相当困难的。本技术的价值在于它能获得试样上微小区域晶体结构的信息。这点恰恰是一般常规的X射线分析方法难于做到的。对研究某些实用材料局部区域的变形,例如裂纹尖端附近结构变化,以及热处理后材料局部性更多还原