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古代铜器X射线荧光分析中基本参数法及蒙特卡罗法的应用

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【作者】 刘亚文； 范钦敏； 李道伦； 韩俊英；

【机构】 中国科学院高能物理所； 中国科学院高能物理所；

【摘要】 <正> 本文介绍在X射线荧光分析中,用基本参数法和蒙特卡罗法(Monte Carlo)进行古文物样品的分析。分析中我们用蒙特卡罗法计算了样品对入射线的散射校正因子以及探测器对特征X射线的相对探测效率。蒙特卡罗法是模拟随机过程的一种统计试验方法,其统计过程是通过随机事件的概率分布函数的随机抽样来实现。

【关键词】 蒙特卡罗法； X射线荧光分析； 参数法； 随机过程； 校正因子； 统计试验； 统计过程； 特征线； 蒙特卡罗方法； 概率分布函数；
  • 【文献出处】 分析测试通报 ,Journal of Instrumental Analysis , 编辑部邮箱 ,1984年04期
  • 【被引频次】2
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