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连续波CO2激光退火消除硅中氧化层错的研究

Investigation on elimination of oxidation stacking faults in silicon by CW CO2 laser annealing

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【作者】 傅汝廉; 开桂云; 杨梦燕; 耿锡琨;

【Author】 Fu Rulian, Kai Guiyun, Yang Mengyan, Geng Xikun (Nankai University)

【机构】 南开大学; 南开大学;

【摘要】 用150瓦连续波CO2激光束照射硅片,观察到了其氧化层错的消除现象,并对消除机理进行了探讨。

【Abstract】 By 150 W CW CO2 laser beam irradiation, the elimination of the oxidation stacking faults in silicon has been observed and its mechanism is discussed.

  • 【文献出处】 中国激光 ,Chinese Journal of Lasers , 编辑部邮箱 ,1984年06期
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