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用于激光器上的某些氧化物薄膜折射率的研究

Research on refractive index of some oxide films used in lasers

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【作者】 金林法； 章宏芬； 杨本祺；

【Author】 Jin Linfa, Zhang Hong fen, Yang Benqi (Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, Aeademia Sinica)

【机构】 中国科学院上海光机所； 中国科学院上海光机所；

【摘要】 本文报导了TiO2、ZrO2、Ta2O5、SiO2薄膜的折射率在不同蒸发条件下的研究结果。

【Abstract】 This paper reports the results on a detailed investigation of the refractive index of TiO2, ZrO2, Ta2O5 SiO2 films at different evaporation conditions.

【关键词】 氧化物薄膜； 折射率变化； 偏光仪； 真空室； 基板； 膜系； 色散曲线； 镀膜机； 透过率； 布儒斯特角；
  • 【文献出处】 中国激光 ,Chinese Journal of Lasers , 编辑部邮箱 ,1984年04期
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