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溅射GaAs薄膜的光学性质
【摘要】 <正> GaAs薄膜由射频溅射法制备。采用高纯Ar气作为工作气体,衬底有高纯Si单晶,GaAs单晶,兰宝石以及在硅单晶上预先生长一层几千埃厚的SiO2膜等多种,GaAs靶有掺杂与不掺杂两种,掺杂靶的杂质浓度为1018cm-3,衬底有加热装置,以控制薄膜沉积的温度。改变衬底及靶种类,改变衬底温度和阳极电压,便可获得一系列生长条件不同的样品。通常GaAs薄膜的厚度在5000(?)以上。
- 【文献出处】 红外研究 , 编辑部邮箱 ,1984年04期
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