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分析光学薄膜的椭偏方程的计算方法

Computation method for analysing ellipsometric equation of optical thin films

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【作者】 范正修; 杨本祺;

【Author】 FAN ZHENGXIU AND YANG BENQI (Shanghai Institute of Optics and Fine Machanics, Academia Sinica)

【机构】 中国科学院上海光学精密机械研究所; 中国科学院上海光学精密机械研究所;

【摘要】 叙述了用测量到的椭偏角ψ及Δ来确定光学薄膜的折射率、厚度和消光系数的方法.该方法收敛较快并节省时间.

【Abstract】 A method for determining the refractive index, thickness and extinction coefficient of optical films from measured ellipsometric ψ and Δ is described. This method is founded more convergent and time-saving parameters.

  • 【文献出处】 光学学报 ,Acta Optica Sinica , 编辑部邮箱 ,1984年10期
  • 【被引频次】2
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