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分步激发光电流谱测量Ne高激发态寿命

Lifetime measurement of high excited states of neon using stepwise excitation optogalvanic spectroscopy

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【作者】 殷立峰胡企铨舒海珍林福成

【Author】 YIN LIFENG HU QIQUAN SU HAIZHENG AND LIN FUCHENG (Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, Academia Sinica)

【机构】 中国科学院上海光学精密机械研究所中国科学院上海光学精密机械研究所

【摘要】 第一次利用分步激发的光电流谱进行了原子能级寿命测量的研究.对Ne的2p2、2p6能级寿命的实测获得了很好的结果,表明这一方法具有很大的优越性和潜力.

【Abstract】 Stepwise excitation optogalvanic spectrosoopy is used to measure the lifetime of atomic state for the first time. The lifetimes of 2p2 and 2p6 states of neon are obtained and agreement with the early reported data is quite well. This method shows its simplicity and other advantages.

  • 【文献出处】 光学学报 ,Acta Optica Sinica , 编辑部邮箱 ,1984年02期
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