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透射Kossel花样分析法

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【作者】 王冠英;

【机构】 中国科学院上海冶金研究所;

【摘要】 <正> Kossel花样不仅能用细聚焦x—光机拍摄,而且也能用电子探针拍摄。对于透射Kossel花样,用电子探针拍摄更为有利。这主要是因为电子探针的电子束直径。样品吸收电流(x—光靶电流)调节方便,拍摄环境是真空和可任意选择样品上的微区等。本文讨论的透射Kossel花样分析法是用日本JXA—3A型电子探针透射Kossel照相机的拍照,借助于虚晶面的概念展开的。

  • 【文献出处】 电子显微学报 ,Journal of Chinese Electron Microscopy Society , 编辑部邮箱 ,1984年04期
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