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PLA交叉点故障及其测试
【摘要】 <正> PLA(可编程序逻辑阵列的英文缩写)在微程序设计、时序控制及大规模集成电路等方面得到广泛应用.在PLA中存在一种特殊的故障模型,即本文所指的交叉点故障.为了获得单交叉点故障的测试码及PLA的完全测试集?,构造了PLA的一种逻辑等效网络,运用它可以很方便地、直观地获得PLA的任何一个单交叉点故障的测试码.
- 【文献出处】 电子技术 ,Electronic Technology , 编辑部邮箱 ,1984年01期
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