节点文献
TP80—LSI测试系统
【摘要】 <正> 一、引言用计算机控制的LSI测试系统,已经有较多的使用。然而,大多数这样的系统,是面向LSI制造厂家或微计算机系统制造厂家的。表1列出了国外三类LSI测试系统的一些技术数据。
- 【文献出处】 电子测量技术 ,Electronic Measurement Technology , 编辑部邮箱 ,1984年01期
- 【下载频次】4
中国学术期刊网络出版总库
【摘要】 <正> 一、引言用计算机控制的LSI测试系统,已经有较多的使用。然而,大多数这样的系统,是面向LSI制造厂家或微计算机系统制造厂家的。表1列出了国外三类LSI测试系统的一些技术数据。