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氧化铅靶层形貌、取向和晶粒度的观测

Observation and Measurement on the Microscopic Appearance, Preferred Orientation, Platelet Thickness of PbO Layers

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【作者】 陆颖; 王朝果; 葛玉如;

【Author】 Lu Ying/Institute of Electronics, Academia SinicaWang Chaoguo/Institute of Physics, Academia SinicaGe Yuru/Institute of Semiconductors,Academia Sinica

【机构】 中国科学院电子学研究所; 中国科学院物理研究所; 中国科学院半导体研究所;

【摘要】 光电导膜层的结晶系统、晶粒生长取向及晶粒度,是决定其光电导性能的基本因素.本文介绍了用扫描电镜、x射线衍射方法对氧化铅靶层的形貌取向晶粒度进行综合研究的结果,并对测量结果做了分析和讨论.

【Abstract】 This paper deals with the obtained comprehensive results of microscopic appearance,preferred orientation,platelet thickness of PbO layers by means of scanning electron micro-graphs and X-ray diffraction techniques.Some of the measured results are discussed.

  • 【文献出处】 半导体学报 ,Chinese Journal of Semiconductors , 编辑部邮箱 ,1984年02期
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