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用正电子湮没辐射Doppler展宽谱测位错密度和空位浓度

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【作者】 彭郁卿； 郑万辉； 朱家璧； 王景成；

【机构】 中国科学院上海原子核研究所； 上海钢铁研究所；

【摘要】 <正> 一、方法由于正电子对物质结构缺陷的极端灵敏性,正电子湮没谱学已经广泛地被人们用来分析金属试样的缺陷。正电子射入金属试样经过热化后,遇到电子就发生湮没,正电子-电子对的静止质量转化为电磁辐射,主要的形式是产生两个发射方向相反、能量各为0.511MeV的γ光

【关键词】 正电子湮没； Doppler； 位错密度； 静止质量； 金属试样； 结构缺陷； 发射方向； 位错胞； 谱线形状； 面心立方结构；
  • 【文献出处】 科学通报 ,Chinese Science Bulletin , 编辑部邮箱 ,1983年01期
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